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部署・役職名 | (デバイス技術部・プロセス技術部)評価解析エンジニア(主にウェハ欠陥検査)(国内勤務) |
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職種 | |
業種 | |
勤務地 | |
仕事内容 |
1) 2nm世代、及びBeyond 2nmの先端ロジック開発における主にデバイス、論理ブロックの評価解析業務を担っていただきます。 2) ウェーハ欠陥検査を主にご担当いただき、その他回路図/レイアウト図など設計データ、およびDC/ACテスト(電気特性評価)結果などを統合的に解析・解釈して、歩留まり向上へのアクションを策定する。 |
応募資格 |
【必須(MUST)】 必須【専門性】 下記いずれかの経験がある方 評価:半導体製造工程で使用されるウェーハ表面検査装置・ウェーハ欠陥検査装置を用いた欠陥検査(欠陥種別分類、欠陥発生工程の特定など)を通し、プロセス工程へフィードバックを行いながら歩留まり改善を行うことができる方 解析:欠陥の発生状況と回路設計データなど統合的に解析し、回路やプロセスの脆弱性を特定・改善することができる方 【歓迎(WANT)】 歓迎テストプログラム(パラメトリック、論理ブロック、メモリーいずれかあるいは複数)作成のご経験 【語学】 TOEIC600点以上もしくは同等程度の語学力 |
受動喫煙対策 | その他 「就業場所が屋外である」、「就業場所によって対策内容が異なる」、「対策内容は採用時までに通知する」 などの場合がその他となります。面接時に詳しい内容をご確認ください |
更新日 | 2024/09/24 |
求人番号 | 3895899 |
採用企業情報
この求人の取り扱い担当者
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