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部署・役職名 | 構造解析<先端材料・電子デバイス> |
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職種 | |
業種 | |
勤務地 | |
仕事内容 |
■FIB(集束イオンビーム)を用いた電子デバイスの構造解析をご担当いただきます。 ※在籍出向となります。 【具体的には】 ・多様な電子顕微鏡観察に適した、様々な方法での微小領域加工 ・分析目的のヒヤリングや測定結果の説明を通した顧客サポート ・新技術である多イオン種プラズマFIBを用いた新規応用分野の探索と社外へのPR |
労働条件 |
09:00 - 17:30 健康保険、雇用保険、労災保険、厚生年金 通勤手当、住宅手当、資格手当、家族手当、 独身寮・社宅、体育施設、契約保養所、確定拠出型企業年金、財形貯蓄制度、住宅融資制度、従業員持株会、グループ生命保険、福祉会、スマイルサポートプランなど 年間120日、夏期休暇、年末年始、有給休暇、慶弔休暇、 |
応募資格 |
【必須(MUST)】 【必須要件】※以下の全てを満たす方■電子顕微鏡を用いた材料分析の経験があること ■FIB装置の使用経験があること 【歓迎要件】 ■分光手法を用いた電子状態などの構造解析の実施経験 |
受動喫煙対策 | その他 「就業場所が屋外である」、「就業場所によって対策内容が異なる」、「対策内容は採用時までに通知する」 などの場合がその他となります。面接時に詳しい内容をご確認ください |
更新日 | 2025/02/18 |
求人番号 | 4347367 |
採用企業情報

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